|
|
| ■「ＶＬＳＩのテスト」 |
システムＬＳＩのテストは、デバイスの開発・製造において極めて重要な位置を占めます。
デバイスの発展・高度化とともにテスト技術が発展してきましたが、それを体系的に記述した教材は皆無の状況です。本講座はこの課題に応え、テスト技術者はもとよりＳｏＣ開発技術者にテスト技術の本質的な理解と技術向上の機会を提供するものです。
なお、本講座は下記の教科書に添っており、教科書を合わせてご活用ください。 |
| |
|
<<講師>> |
|
| |
■
奈良先端科学技術大学院大学 藤原秀雄 教授 |
|
ＶＬＳＩのテスト（１） |
| ４． |
Fault Modeling |
|
4.1 Logical Fault
Modeling:故障の分類
4.2 Fault Detection and Redundancy
4.2.1 Combinational Circuit |
|
|
ＶＬＳＩのテスト（２） |
| ６． |
テスト生成 |
|
・ブール微分 |
|
・演算問題/演算問題解答 |
|
・テスト生成アルゴリズムの歴史 |
|
|
ＶＬＳＩのテスト（３） |
| ９． |
テスト容易化設計 Design for Testability |
|
・テスト生成の複雑度 |
|
・可検査性（テスタビリティ）解析 |
|
|
ＶＬＳＩのテスト（４） |
| １０． |
組込み自己テスト |
|
組込み自己テスト法 |
|
線形ﾌｨｰﾄﾞﾊﾞｯｸｼﾌﾄﾚｼﾞｽﾀ |
|
ｼｸﾞﾈﾁｬｰ解析 |
|
LFSR回路 |
|
組込み自己テスト(ﾊﾞｽ構造) |
|
組込み自己テスト(ｽｷｬﾝ方式と併用) |
|
|
ＶＬＳＩのテスト（５） |
|
・上流からのテスト容易化設計
・ＶＬＳＩ合成
・高位合成モデル
・高位合成
・テスト手法とＲＴＬレベルテスト容易化 |
|
|
|
|
|
■ 教科書について
|
この講座は教科書を使用します。同時にご購入ください。
「Digital Systems Testing and Testable Design」MAbramovici他著 IEEE Press
※海外書籍なのでその時のレートにより金額に差がでます。（約
\13,000）（税込み）
|
|
このページのトップに戻る
|
|
